Nieuwsbank

Schrijft, screent en verspreidt persberichten voor journalistiek, search en social media. Hét startpunt om uw nieuws wereldkundig te maken. Ook voor follow-ups, pitches en korte videoproducties.

Nieuwe testmethode chips bespaart tijd

Datum nieuwsfeit: 29-09-2000
Vindplaats van dit bericht
Bron: Razende Robot Reporter
Zoek soortgelijke berichten
Universiteit Twente

00/87 29 september 2000

Nieuwe testmethode bespaart tijd

Testen van chips: geen seconde teveel

Het testen van een chip is een van de belangrijkste economische factoren in het hele productieproces geworden. De tijd en kosten, nodig voor een goede test, nemen met de toenemende complexiteit explosief toe. Toch wil de fabrikant in minimale tijd een garantie krijgen over de correcte werking. Promovenda ir. Nur Engin heeft een methode ontwikkeld die de benodigde tijd voor het testen van 'mixed-signal' chips terugdringt. De door haar ontwikkelde software maakt automatisch een testplan voor de chip, op basis van de specificaties en ontwerpinformatie. Op deze manier wordt een chip aanzienlijk goedkoper en tegelijk beter getest. Engin promoveert op 29 september aan de faculteit Elektrotechniek van de Universiteit Twente.

Het testen van een chip is enigszins vergelijkbaar met het controleren van het reilen en zeilen van een complete wereldstad, met als enige informatie het af- en aanrijdende verkeer op de toegangswegen. Intern heeft een chip tegenwoordig vaak miljoenen onderdelen met nog meer onderlinge verbindingen, maar 'naar de buitenwereld' is het aantal aansluitingen hooguit een paar honderd. Om toch de werking van de chip als geheel te kunnen testen, wordt op die aansluitingen in korte tijd een serie speciale testsignalen gezet. Het is de kunst om een goed testplan te bedenken dat zo weinig mogelijk tijd en geld kost en toch een goede garantie kan afgeven.

Mixed-signal

Engin heeft zich in haar promotie-onderzoek met name gericht op het testen van chips met 'Mixed-signal' schakelingen erop. Dat maakt het nog een stuk complexer, omdat analoge en digitale elektronica daar samen een plek vinden op één chip, voor bijvoorbeeld toepassing in mobiele telefoons en audio- en videoapparatuur. De combinatie vraagt ook om passende combinatie van testmethoden. Tot nu toe kost het veel tijd om daarvoor een waterdicht testplan te ontwikkelen, waarin alle geschikte testsignalen zijn gedefinieerd.

Om dit automatisch te kunnen genereren, gebruikt Engin de informatie waarmee de ontwerper van de chip is begonnen: de uitgebreide set specificaties waaraan de chip moet voldoen. Door de ontwerpsoftware te koppelen aan het testprogramma kan een plan automatisch gegenereerd worden: welke signalen worden achtereenvolgens aangeboden en wat moet gemeten worden als reactie? Andersom kan ook de ontwerper al in het ontwerp rekening houden met de noodzaak van een test: 'testable design' houdt daar rekening mee. Met de nieuwe aanpak gaat het maken van een testplan veel sneller en eenvoudiger, en de test zelf ook.

De test getest

Om ook te kunnen beoordelen hoe efficiënt de test is, is het nodig om rekening te houden met fouten die kunnen optreden. Een kleine fabricagefout kan betekenen dat de chip wel werkt, maar niet onder alle omstandigheden. Een goede test haalt die fout er toch uit. Door de reactie te meten op een aantal bewust aangebrachte, gesimuleerde fouten, is de kwaliteit van de test te meten. Ook in deze foutsimulatie haalt Engin een aanzienlijke snelheidswinst.

Multichip

De groep Testable Design and Testing of Microsystems, aan de faculteit Elektrotechniek en het MESA+-onderzoeksinstituut van de Universiteit Twente, ontwikkelt geavanceerde testmethoden voor microsystemen. Micro-elektronica wordt steeds vaker geïntegreerd met sensoren en actuatoren, op één chip of op zogenaamde multichipmodules. Naast software worden ook strategieën ontwikkeld voor hardware, waarmee de chip een deel van de tests zèlf kan uitvoeren.

Noot voor de pers

Ir. Nur Engin (Ankara, 1970) studeerde tot 1996 Control & Telecommunications Engineering aan de Middle East Technical University in Ankara. Bij haar promotie op 29 september is prof.dr. H. Wallinga promotor en dr. H.G. Kerkhoff assistent-promotor. Engin is momenteel werkzaam als wetenschappelijk onderzoeker bij Philips Research in Eindhoven.

Van het proefschrift 'Linking Mixed Signal Design and Test: Generation and Evaluation of Specification-Based Tests' zijn recensie exemplaren beschikbaar voor de pers.

Contactpersoon Universiteit Twente, dienst Communicatie en Transfer: ir. W.R. van der Veen, tel (053) 489 42 44, e-mail (w.r.vanderveen@cent.utwente.nl)

© Universiteit Twente 1997-2000

reageer via disqus

Nieuwsbank op Twitter

Gratis persberichten ontvangen?

Registreer nu

Profiteer van het gratis Nieuwsbank persberichtenfilter

advertentie