Universiteit Twente


Dienst Voorlichting en Externe Betrekkingen, Postbus 217, 7500 AE Enschede, telefoon (053) 489 4244, E-mail: b.meijering@veb.utwente.nl

Microscoop brengt immuunreacties in kaart

promotie ir. O.H. Willemsen, faculteit Technische Natuurkunde, Detection of Tip-Surface Interactions in Atomic Force Microscopy

Atomic Force Microscopy maakt het mogelijk om moleculen af te beelden, door met een scherpe naald over een oppervlak te scannen. Deze scanning microscopie technieken zijn sterk in opkomst. Ook is het nu mogelijk om de krachten te meten die nodig zijn om een molecuul, of complex van moleculen, los te trekken van het oppervlak. Willemsen heeft hiervoor een nieuwe methode ontwikkeld, waarbij hij een receptor aanbrengt op de tip, een stof die alleen moleculen van één specifieke andere stof aantrekt. Komt zon gemodificeerde tip dan in de buurt van een molecuul dat als een sleutel in een sleutelgat- past in die receptor, dan kan de AFM-tip de verbinding tussen de receptor en het molecuul lostrekken. De interacties tussen de tip en de moleculen van het oppervlak zijn dan precies te meten. De meetmethode brengt immuunreacties tussen antilichamen en antigenen in beeld: de krachtige combinatie van afbeelding en krachtmeting lokaliseert deze reacties heel precies. Willemsen verwacht dat met zijn methode binnenkort ook celmembranen kunnen worden afgebeeld, om ook moleculaire interacties in het immuunsysteem te kunnen onderzoeken.

promotores prof.dr. J. Greve en prof.dr. C. Figdor informatie ir. W.R. van der Veen, tel (053) 489 4244 e-mail w.r.vanderveen@veb.utwente.nl

© Universiteit Twente 1999
Laatst gewijzigd op 11-10-99.

Zoekwoorden:

Deel: ' Promotie Microscoop brengt immuunreacties in kaart '




Lees ook