Persbericht Unisys

Unisys kondigt high-speed, high-power test- en inbrandsysteem voor chips aan Unisys Unigen Operations bouwt 'next generation'-systeem

Amsterdam, 20 juli 1999 - Unisys introduceert de nieuwste versie van PowerSCAN, haar high-speed, high- power test- en inbrandsysteem. PowerSCAN is het resultaat van gepatenteerde technologieën die geheel onafhankelijk van elkaar door zowel Unisys als Motay Electronics zijn ontwikkeld. Motay is begin 1999 door Unisys overgenomen en is nu onder de naam Unisys Unigen Operations (UUO) actief.

"De semi-conductor-industrie produceert steeds krachtiger silicon-producten en heeft duidelijk een grote behoefte aan een nieuwe generatie watergekoelde inbrandtechnologieën om snellere en energieverslindende chips te kunnen bewerken", aldus James Rhodes, Vice-President en General Manager Unisys Unigen Operations. "De combinatie van de technologieën van Unisys en Motay heeft geresulteerd in één van de krachtigste high-speed test- en inbrandsystemen."

Fabrikanten van semi-conductors zijn steeds op zoek naar nieuwe manieren om nieuwe chips te testen en in te branden. Met deze methoden kunnen chips worden opgespoord, waarmee mogelijk problemen kunnen optreden. Wanneer een onderdeel van een semi-conductor niet naar behoren functioneert, wordt dit meestal in de eerste maanden al duidelijk. De test- en inbrandtechnologie van UUO verkort deze initiële periode, zodat fouten in de semi-conductor-onderdelen sneller worden ontdekt. Hierdoor krijgen gebruikers de beschikking over betrouwbare producten en verlaagt de producent zijn eigen garantiekosten.

Nieuwe chips kunnen tijdens de productie zo heet worden, dat de traditionele test- en inbrandmethoden zelfs in goede chips fouten veroorzaken. Unisys heeft een gepatenteerde technologie ontwikkeld met een thermische controlefunctie. Deze technologie werd eerst ontwikkeld voor toepassing in de mainframe-systemen van Unisys, die grote hoeveelheden op maat gemaakte semi-conductors bevatten. Unisys zag het belang in van deze technologie voor de gehele semi-conductor-industrie, wat nu resulteerde in dit PowerSCAN-systeem.

Het thermale gedeelte van PowerSCAN biedt afzonderlijke stroomverwerking tot 200 Watts, met thermale impedantie (wisselstroomweerstand) tot 0,2 graden C/Watt. Daarnaast biedt dit systeem high-speed testsignalen en functionele test dataverzameling met snelheden tot 150 MHz. De basistechnologie is gebaseerd op IEEE 1149.1 (JTAG of Boundary Scan) en levert ongelimiteerde, bepalende data en algoritmische patronen voor ingebouwde geheugentesten. PowerSCAN kan door vrijwel alle JTAG-apparatuur worden gebruikt voor testen en inbranden. Momenteel ontwikkelt Unisys meer producten die op de PowerSCAN-productreeks zijn gebaseerd. Naar verwachting worden deze producten begin 2000 op de markt gebracht. Het nieuwe PowerSCAN-systeem is in het eerste kwartaal van 2000 beschikbaar.

De eerder dit jaar geïntroduceerde Unigen Series 9000 Custom Cooler maakt gebruik van deze koeltechnologie voor het koelen van energieverslindende semi-conductor-onderdelen en samengestelde borden. Het is een op maat gemaakt product dat aan specifieke koelbehoeften kan worden aangepast. UUO biedt onder de naam 'Unigen 2000 PRO' ook standaard test- en inbrandsystemen. Deze productreeks bestaat onder andere uit ScanPRO, MemPRO,

Deel: ' Unisys Unigen Operations bouwt 'next generation'-systeem '




Lees ook